場發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡

Field-Emission Environmental Scanning Electron Microscope

型號：美國FEI Quattro S

功能：用于材料表面、斷面形貌觀察，微區(qū)成分定性定量分析。

技術(shù)參數(shù)：

﹡分辨率：1.0nm（30KV, SE）

﹡附件：X射線能譜儀（EDS）、電子背散射衍射儀（EBSD）

﹡放大倍數(shù)：300萬倍

Model: FEI Quattro S

Function: Used for observation of surface and section morphology of materials, qualitative and quantitative analysis of components in microregions.

Technical Parameters:

﹡Resolution: 1.0nm(30KV, SE)

﹡Accessories: Energy Dispersive Spectrometer, Electron Backscattered Diffraction

﹡Magnification: 3,000,000×